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低温闪点测定仪技术指标与工作原理

时间:2025-04-22 来源:科创星光

技术指标:


1、检测范围:-30℃~100℃或-10℃~100℃或室温~300℃(可选)


2、测量精度:±4℃


3、分 辨 率:0.1℃


4、制冷方式:半导体制冷(自带冷水循环)


5、供气气源:气或电可选(默认气扫火)


6、环境温度:温度5℃~30℃


7、环境湿度:≤85%RH(无冷凝)


8、工作电源:AC220V±10%  50Hz±10%


9、整机功耗:≤300W


10、外形尺寸:490mm×520mm×390mm


11、仪器净重:25.5kg


工作原理:


整机采用智能温控仪表控制单元,设有加热、开盖、控温及显示、闪火、过温保护功能特性。制冷元件采用半导体制冷器件,体积小,自带水冷却装置,制冷速度快。


外围电路采用固态继电器等电子器件,杜绝了电气干扰等问题。按照改进的PID控制的温度加热系统,采用高精度温度转换模块,使温度测试及显示可靠准确。


以下介绍科创星光自主研发生产的低温闪点测定仪,仪器特点如下介绍:


XG605 低温闪点测定仪

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